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產(chǎn)品中心無(wú)損檢測(cè)設(shè)備電阻測(cè)試儀
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新型電阻率方塊電阻測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)：KDB-1 本方阻測(cè)試新產(chǎn)品為薄膜測(cè)試提供機(jī)械、電氣兩方面的保護(hù)，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準(zhǔn)確、無(wú)損的方塊電阻測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間：2024-02-04
產(chǎn)品型號(hào)：KDB-1
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